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XPE系列分析天平 梅特勒电子天平价格
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XPE系列分析天平 梅特勒电子天平价格

型号：XPE系列电子天平

XPE系列分析天平 梅特勒电子天平价格 XPE 分析天平采用独特的设计，将称重传感器和电子元件安装在天平的背部。 您可获得的利益：不受散热影响且易于清洁，因此可获得更好的称量性能。 获得专利的设计具备以下关键特征： SmartGrid 技术能够以最快速、清洁的方式完成称量任务。 内部温度控制 (ITC) 装置无需单独或外部电子元件即可确保获得最小称量值。 proFACT 高级版本确保准确性和温度稳定性并符合内部测试规定。

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独特性能：

StaticDetect™ 静电检测和静电消除技术，加上先进的 SmartGrid 网格秤盘为您提供具有重复性的可靠结果。 创新型 StatusLight™ 天平就绪指示灯以及利用 TestManager™ 测试管理功能轻松进行日常测试可提高您的质量管理且易于合规。

XPE 分析天平采用独特的设计，将称重传感器和电子元件安装在天平的背部。 您可获得的利益：不受散热影响且易于清洁，因此可获得更好的称量性能。 获得专利的设计具备以下关键特征：


梅特勒电子天平

SmartGrid 技术能够以最快速、清洁的方式完成称量任务。
内部温度控制 (ITC) 装置无需单独或外部电子元件即可确保获得最小称量值。
proFACT 高级版本确保准确性和温度稳定性并符合内部测试规定。
良好的称量规范™
新型 XSE 和 XPE 分析天平依照 GWP® 研发而成。 梅特勒-托利多开发出 GWP® (Good Weighing Practice™)，作为安全选择、校准和操作称重设备的标准化科学方法。 GWP® 提供的可再现性称重结果书面凭证符合当前所有实验室和制造业的质量标准。 关注稳定的过程、一致的产品质量、精益制造 或遵守法规的用户可使用 GWP® 作为选择和校准其称重设备的基准。



梅特勒电子天平型号

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